Издательство: Академия
Год выпуска: 2008
ISBN: 978-5-7695-4227-5
Формат: 60x90/16
Кол-во страниц: 400
Описание: Изложены основы квантовой механики, фрактальной геометрии и фрактальной физики, нелинейной динамики. Рассмотрены физические основы основных технологических процессов микро- и наноэлектроники: получение тонкопленочных структур, создание и перенос литографического изображения, методы модификации поверхностных и объемных структур, основы и методы контроля и метрологии. Для студентов высших учебных заведений.
Цена: 767 руб.
Знаете ли Вы, что ...
Рабочее время
Рабочее время - время, в течение которого работник в соответствии с правилами внутреннего трудового распорядка и условиями ...
Эндемическая заболеваемость
Эндемическая заболеваемость (эндемия - от греч. endemos - местный) - постоянно существующая заболеваемость на данной территории ...
Экопатология детства
Экопатология детства - врожденные пороки, аллергические, хронические нервно-психические и соматические болезни, а также ...
Экологический риск
Экологический риск - анализ заболеваемости населения, наложенный на демографическую структуру и социальные аспекты.
Штамм
Штамм (от нем. stamm - ствол, основа) - чистая культура микроорганизмов, выделенных из определенного источника и отличающихся ...
